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Neuigkeiten

CCI MP-HS

Der CCI MP-HS misst alle Oberflächenarten von sehr rau bis sehr weich, und gibt damit die Möglichkeit zur Messung eines breiten Spektrums an Komponenten, was ideal für Forschungsumgebungen ist.

CCI HD

Bei Verwendung in Fertigung und Forschung kann das CCI HD Dickschichten bis zu 1,5 Mikron und Dünnfilmbeschichtungen bis zu 50 nm messen.

CCI MP-HS

Unabhängig von der Komponente, und wie schnell Sie diese analysieren müssen, ist die Zuversicht in das Ergebnis Ihrer 3D-Flächenmessung ist mit dem revolutionären CCI MP-HS kontaktlosen optischen Profiler sichergestellt. Eine sehr schnelle 1 MP Kamera verbindet sich mit 1/10 Ångström vertikaler Auflösung, um eine unglaublich detaillierte Analyse aller Oberflächenarten von sehr rau bis sehr weich zu liefern.

Erweitern Sie in hohem Maße Ihre Analysefähigkeiten, ohne die Komplexität Ihrer Analyseprogramme zu erhöhen. Ein breites Spektrum an Komponenten und Oberflächen kann ohne die Erschwernis durch den Wechsel zwischen Messverfahren oder der zusätzlichen Last durch Objektivkalibrierung gemessen werden. Standardisierte Methoden, Prozeduren und Berichtswesen erleichtern die Integration von CCI MP-HS in Ihr hochwertiges Managementsystem. 

  • 1024 x 1024  Pixelarray für große FOX mit hoher Auflösung
  • Fortschrittliches X-, Y- und Z-Stitching, das den Messbereich erweitert
  • <0,2 Ångström RMS Wiederholpräzision, <0,1% Sprunghöhenwiederholpräzision
  • Integrierte Antivibration für optimales Rauschverhalten
  • Windows 7 64-Bit Software, mehrsprachig
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CCI HD

Der CCI HD ist ein kontaktloser optischer 3D-Profiler mit der Fähigkeit zum Messen von Dickschicht und Dünnfilm. Er verwendet einen innovativen, patentierten Korrelationsalgorithmus zum Finden des Kohärenzspitzenwerts und Phasenposition eines Interferenzmusters, das von unserer optischen Präzisionsabtasteinheit produziert wird. Der neue CCI HD verbindet die weltweit führende Fähigkeit zur kontaktlosen dimensionalen Messung mit fortschrittlicher Dünn- und Dickfilmtechnologie.

Der CCI HD wurde entworfen, um beide Arten der Messung von Filmdicke, zusätzlich zur Fähigkeit dimensionaler und Rauigkeitsmessung, anzubieten. Dickfilmanalyse wurde in den letzten Jahren verwendet, um halbtransparente Beschichtungen bis zu 1,5 Mikron zu untersuchen; die Beschränkung ist abhängig vom Brechungsindex der Materialien und der NA des Objektivs. Dünnere Beschichtungen haben sich als größere Herausforderung erwiesen.

Es ist nun möglich, Dünnfilmbeschichtungen bis zu 50 nm (ebenfalls abhängig vom Brechungsindex) durch Interferometrie zu untersuchen. Diese neue Vorgehensweise ermöglicht die Untersuchung der Eigenschaften wie Filmdicke, Grenzflächenrauigkeit, Aperturblendendefekte und Enthaftung von dünn beschichteten Oberflächen, alles mit einer einzigen Messung.

  • 2048 x 2048 Pixelarray für große FOV mit hoher Auflösung
  • 0,1 Ångström Auflösung über den gesamten Messbereich
  • 0,3% - 100% Oberflächenreflektivität kann untergebracht werden
  • <0,2 Ångström RMS Wiederholpräzision, 0,1% Sprunghöhenwiederholpräzision
  • 64-Bit Steuerung- und Analysesoftware, mehrsprachig
Date Article Title   Description
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